发明名称 一种激光探针微区成分分析仪
摘要 本发明属于激光探测技术领域,具体为一种激光探针微区成分分析仪。其结构为:激光器,扩束镜和第一全反射镜依次位于同一水平光路上;第一全反射镜的反射面与水平光路的夹角为45度;工业CCD位于第一全反射镜的上方,工业CCD和第一聚焦物镜自上而下依次放置且光轴重合;三维工作台的工作台面位于第一聚焦物镜的下方;全反射镜活动安装在样品的反射光路上,光纤探头位于全反射镜的反射光路上;工业CCD通过光纤与带有显示器的计算机连接,光纤探头与光栅光谱仪、增强型CCD和计算机连接。该激光探针仪能对物质微区元素进行无损探测,能满足各种材料及尺寸的器件的快速元素成分定性分析,还可以针对样品微区的微量甚至痕量元素进行高精度的定量分析。
申请公布号 CN101587074B 申请公布日期 2011.04.20
申请号 CN200910062846.7 申请日期 2009.06.23
申请人 华中科技大学 发明人 曾晓雁;陆永枫;郭连波;蔡志祥;曹宇;李常茂
分类号 G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G02B7/182(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 曹葆青
主权项 一种激光探针微区成分分析仪,其特征在于:激光器(1)、扩束镜(5)和第一全反射镜(7)依次位于同一水平光路上,第一全反射镜(7)的反射面与水平光路的夹角为45度;激光器(1)为可调谐脉冲激光器,激光器(1)内带有小孔光阑或者其出光口设置有小孔光阑;工业CCD(10)位于第一全反射镜(7)的上方,第一聚焦物镜(19)位于第一全反射镜(7)下方,第一聚焦物镜(19)和工业CCD(10)的光轴重合;三维工作台的工作台面位于第一聚焦物镜(19)的下方,用于放置样品(23);第二全反射镜(9)活动安装在样品(23)的反射光路上,光纤探头(8)位于第二全反射镜(9)的反射光路上;工业CCD(10)通过光纤与带有显示器的计算机连接,光纤探头(8)通过光纤(25)依次与光栅光谱仪(27)、增强型CCD(28)相连,后者通过同轴电缆和计算机连接。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号