发明名称 一种用高温激光显微镜测量奥氏体晶粒尺寸的方法
摘要 一种用高温激光显微镜测量奥氏体晶粒尺寸的方法,属于金属材料及热处理检验方法领域。工艺步骤为:制备合适尺寸的试样,经粗研磨、细研磨、抛光、清洗,然后放于高温激光显微镜加热炉内准备试验。试验操作:先于软件内制定好合适的试验程序,对试样进行加热、保温等试验。试验完毕后,储存试验的视频结果。在测试过程中用高温激光的控制器里的测量功能进行实时温度的奥氏体晶粒尺寸的测量,据标准进一步评定奥氏体晶粒度。优点在于,该方法解决了部分钢种奥氏体晶粒显示困难问题,能直观、清晰地显示奥氏体晶粒照片,进行晶粒尺寸的测量;适用于金属材料在加热到Ac3点以上奥氏体单相区域内的奥氏体晶粒尺寸测量。
申请公布号 CN101413786B 申请公布日期 2011.04.20
申请号 CN200810227821.3 申请日期 2008.11.28
申请人 首钢总公司 发明人 温娟;刘晓岚;鞠新华;罗家明;李琪;史学星
分类号 G01B11/02(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 北京华谊知识产权代理有限公司 11207 代理人 刘月娥
主权项 1.一种用高温激光显微镜测量奥氏体晶粒尺寸的方法,包括试样制备、设定程序进行试验和晶粒尺寸的测量三步骤:(1)试样制备据试验设备的需要,试样首先切割成直径8mm,高3.5mm的圆柱形状,试样上下表面一定要保持平整平行,然后试样按金相制样方法进行磨制、抛光后,再放进超声波清洗器里用丙酮进行清洗,吹干,试样制备完毕,放进加热炉里面的Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>坩埚里进行加热;(2)试验过程根据试验目的及试样的含碳量及化学成分,制定试验程序,试验程序的设定包括加热速度、加热所需达到的温度以及所需的保温时间;本方法显示原始的奥氏体晶粒尺寸,需要试样加热到材料的奥氏体相变的温度,Ac3点以上奥氏体单相存在的温度范围内;试验之前设备需要进行抽真空操作,试验过程中需不断充入Ar气,防止试样在试验过程被氧化;试验完毕后,保存试验记录的视频结果;(3)奥氏体晶粒尺寸的测量晶粒尺寸的测定,从视频结果里抓取图片,参照图片的标尺用金相图像仪软件先进行标尺转换,再用常规的截点法或面积法,按照标准GB/T6394-2002进行测量;步骤(3)奥氏体晶粒尺寸的测量是在测试过程中用高温激光图像控制器里的测量系统进行实时温度的奥氏体晶粒尺寸的测量,在每个视场里面测量N个晶粒截点的长度L,再计算得到其平均截距,平均晶粒尺寸d;随后,由平均晶粒尺寸大小对照标准金属平均晶粒度测定方法GB/T6394-2002,评定相关的晶粒级别情况;用高温激光图像控制器里的测量系统进行实时温度的奥氏体晶粒尺寸的测量的步骤是:使用测量系统时,据试验时显微镜物镜的放大倍数,点击“LENS”按钮,设定好图像显示器中图像右下角标尺;试验中,当显示器里面出现所需图像后,依次按下“DISP”和<img file="FSB00000204852600011.GIF" wi="136" he="34" />按钮,则显示器图像中出现三条直线,一条水平直线和两条垂直竖直线;水平线是横穿晶粒的直线,按“UP”按钮,再旋转旁边旋钮,控制水平线上下移动,移动到显示器图像中晶粒显示清楚的位置固定;再按“R”按钮,再旋转旁边旋钮,可控制右边的垂直方向的竖线左右移动,移动时经过水平线上的一个清晰的晶粒边界固定;再按“L”按钮,再旋转旁边旋钮,可控制左边的垂直方向竖线左右移动,从右边的竖直线重合开始,一直向左移动,移动时数出经过水平直线晶粒截点个数N,同时,当经过N个晶粒截点时,图像屏幕下会自动显示经过这N个晶粒截点的直线长度L。
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