| 发明名称 |
TEST EQUIPMENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING BUILT-IN INSTRUMENTS STANDARD INTERFACE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR20110039342(A) |
申请公布日期 |
2011.04.15 |
| 申请号 |
KR20117003204 |
申请日期 |
2009.07.09 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORPORATION |
发明人 |
WATANABE DAISUKE;OKAYASU TOSHIYUKI |
| 分类号 |
G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/319 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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