发明名称 Optimieren von Arbeitspunkten für ein Halbleiterelement
摘要 <p>In einer Ausführungsform umfasst ein Verfahren Ermitteln von Umgebungsbedingungen, die mit dem Betrieb eines Chips mit mehreren Elementtypen verknüpft sind, Zugreifen auf eine Tabelle, die in dem Chip gespeichert ist, basierend auf den ermittelten Umgebungsbedingungen, und dynamisches Betreiben des Chips an einem Arbeitspunkt, der basierend auf den ermittelten Umgebungsbedingungen aus der Tabelle abgerufen wurde.</p>
申请公布号 DE102010046904(A1) 申请公布日期 2011.04.14
申请号 DE20101046904 申请日期 2010.09.29
申请人 SILICON LABORATORIES INC. 发明人 COOLEY, DANIEL J.
分类号 G01R29/00;G06F1/32;H01L27/00 主分类号 G01R29/00
代理机构 代理人
主权项
地址