| 发明名称 | 利用有源器件的并行测试电路 | ||
| 摘要 | 根据本发明一个实施例，提供了一种系统，该系统包括：第一端子，用于在操作期间接收输入测试信号；与第一端子相耦合的多个输入/输出端子；其中，输入/输出端子被配置为在并行输出操作期间并行输出各自的输出测试信号；其中，输入/输出端子被配置为在并行输入操作期间从被测试器件并行输入测试响应信号；并且其中，输入/输出端子中的每个输入/输出端子在操作期间与其余的多个输入/输出端子电隔离。 | ||
| 申请公布号 | CN102016612A | 申请公布日期 | 2011.04.13 |
| 申请号 | CN200980114120.1 | 申请日期 | 2009.02.23 |
| 申请人 | 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司 | 发明人 | 爱德马度·德拉·帕恩特;大卫·埃斯克德森 |
| 分类号 | G01R31/02(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人 | 李晓冬;南霆 |
| 主权项 | 一种集成电路，包括：第一端子，用于在操作期间接收输入测试信号；与所述第一端子相耦合的多个输入/输出端子；其中，所述输入/输出端子被配置为在并行输出操作期间并行输出各自的输出测试信号；其中，所述输入/输出端子被配置为在并行输入操作期间从被测试器件并行输入测试响应信号；并且其中，所述输入/输出端子中的每个输入/输出端子在操作期间与其余的多个输入/输出端子电隔离。 | ||
| 地址 | 新加坡新加坡市 | ||