发明名称 被处理体的处理方法
摘要 本发明提供能够更强地抑制光致抗蚀剂层的高度的减小的被处理体的处理方法。被处理体W具备有机膜和形成在该有机膜上的光致抗蚀剂层,使用含氢的处理气体作为处理气体,一面对第一电极(5)施加直流负电压,一面使用光致抗蚀剂层作为掩膜,利用含氢的等离子体对有机膜进行蚀刻。
申请公布号 CN102013397A 申请公布日期 2011.04.13
申请号 CN201010279990.9 申请日期 2010.09.08
申请人 东京毅力科创株式会社 发明人 成重和树;重田和男
分类号 H01L21/312(2006.01)I 主分类号 H01L21/312(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人 龙淳;刘春成
主权项 一种被处理体的处理方法,在处理容器内相对地配置有第一电极和支承被处理体的第二电极,向所述处理容器内供给处理气体,在所述第一电极与所述第二电极之间施加有高频电力,并在所述第一电极与所述第二电极之间生成所述处理气体的等离子体,对由所述第二电极支承的所述被处理体实施等离子体处理,该被处理体的处理方法的特征在于:所述被处理体具备有机膜和形成在该有机膜上的光致抗蚀剂层,使用含有氢的处理气体作为所述处理气体,边对所述第一电极施加直流负电压,边使用所述光致抗蚀剂层作为掩膜,利用含有氢的等离子体对所述有机膜进行蚀刻。
地址 日本东京