发明名称 |
液晶面板中离子浓度的分析方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种液晶面板中离子浓度的分析方法和装置,其中方法包括:分别调整测试液晶面板和标准液晶面板的公共电压,并得到测试液晶面板的第一公共电压和标准液晶面板的第一公共电压;根据选取的测试电压,分别调整测试液晶面板和标准液晶面板的第一公共电压;在测试液晶面板和标准液晶面板中分别加载第一图像,并将第一图像在测试液晶面板和标准液晶面板中保持一段时间;将加载的第一图像切换为第二图像;根据测试液晶面板和标准液晶面板中的所述第二图像中出现的残像的程度分析测试液晶面板中的离子浓度。液晶面板中离子浓度的分析装置包括调整模块和加载模块。本发明减小了对液晶面板的损害,减少了浓度分析所需的时间。 |
申请公布号 |
CN101650480B |
申请公布日期 |
2011.04.13 |
申请号 |
CN200810118242.5 |
申请日期 |
2008.08.11 |
申请人 |
北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
赵海玉 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R19/08(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 |
代理人 |
刘芳 |
主权项 |
一种液晶面板中离子浓度的分析方法,其特征在于,包括:分别调整测试液晶面板和标准液晶面板的公共电压,使得所述测试液晶面板和所述标准液晶面板的直流分量电压均为0,并得到所述测试液晶面板的第一公共电压和所述标准液晶面板的第一公共电压;根据选取的测试电压,将所述测试液晶面板的第一公共电压调整为测试液晶面板的第二公共电压,将所述标准液晶面板的第一公共电压调整为标准液晶面板的第二公共电压;其中,所述测试液晶面板的第二公共电压为所述测试液晶面板的第一公共电压与所述测试电压之和,所述标准液晶面板的第二公共电压为所述标准液晶面板的第一公共电压与所述测试电压之和;在所述测试液晶面板和所述标准液晶面板中分别加载第一图像,并将所述第一图像在所述测试液晶面板和所述标准液晶面板中保持一段时间;将加载的所述第一图像切换为第二图像;根据所述测试液晶面板和所述标准液晶面板中的所述第二图像中出现的残像的程度,分析所述测试液晶面板中的离子浓度。 |
地址 |
100176 北京市经济技术开发区西环中路8号 |