发明名称 |
存储器单元的状态机感测 |
摘要 |
本发明包括用于使用状态机来感测存储器单元的方法、装置、模块及系统。一个方法实施例包括根据状态机的第一输出而产生第一感测参考。所述方法包括以所述第一感测参考将存储器单元可编程到的可能的编程电平的范围分成两部分。所述方法还包括根据所述状态机的第二输出而产生第二感测参考。所述方法进一步包括以所述第二产生的感测参考来确定所述存储器单元的编程电平。 |
申请公布号 |
CN102017007A |
申请公布日期 |
2011.04.13 |
申请号 |
CN200980116375.1 |
申请日期 |
2009.03.20 |
申请人 |
美光科技公司 |
发明人 |
马炎涛;刘峻 |
分类号 |
G11C16/26(2006.01)I;G11C16/34(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
宋献涛 |
主权项 |
一种用于感测存储器单元的方法,其包含:根据状态机的第一输出而产生第一感测参考;以所述第一感测参考将存储器单元可编程到的可能的编程电平的范围分成两部分;根据所述状态机的第二输出而产生第二感测参考;以及.以所述第二产生的感测参考来确定所述存储器单元的编程电平。 |
地址 |
美国爱达荷州 |