多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法

摘要

本发明涉及一种多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法。其操作步骤为调度矩阵Z建立与初始化、调度矩阵Z行扩展、调度矩阵Z行收缩、调度矩阵Z总测试带宽-总测试时间(W-T)二维调度排序、调度矩阵Z总测试带宽-调节因子(W-α)双重遍历和报告生成。本发明能够将片上系统内嵌逻辑芯核测试调度和逻辑芯核内测试链路成链两个以往相对独立的问题有效地统一解决，进而能够有效地降低片上系统的测试时间和测试开销。本发明操作方便，适用于各种以扫描链方式完成逻辑芯核可测性设计的片上系统。

主权项

一种多级排序算法运用于片上系统内嵌逻辑芯核测试调度的方法，通过SoC文件读入、设置排序深度和优先标准，运用多级排序算法，在逻辑芯核测试调度上获得最优的逻辑芯核测试调度结果，其特征在于操作步骤为：(1)调度矩阵Z建立与初始化、(2)调度矩阵Z行扩展、(3)调度矩阵Z行收缩、(4)调度矩阵Z总测试带宽‑总测试时间(W‑T)二维调度排序、(5)调度矩阵Z总测试带宽‑调节因子(W‑α)双重遍历和(6)报告生成；所述步骤(1)调度矩阵Z建立与初始化是：读取SoC文件，该文件符合ITC’02(International TestConference 2002)制定的SoC文件格式，从中获取SoC中的逻辑芯核总数p，初始化调度矩阵Z，调度矩阵Z中的元素为测试链路成链对象，该对象具有逻辑芯核带宽w和逻辑芯核测试时间t的二维属性；所述步骤(2)调度矩阵Z行扩展是：通过设定测试链路成链排序深度m，对每一个逻辑芯核按特定算式形成m个测试链路成链对象，从而行扩展调度矩阵Z；所述步骤(3)调度矩阵Z行收缩是：通过设置优先标准，在各列上对m个测试链路成链对象按优先标准进行标量化排序，获得优先测试链路成链对象，丢弃其余测试链路成链对象，从而行收缩调度矩阵Z；所述步骤(4)调度矩阵Z总测试带宽‑总测试时间(W‑T)二维调度排序是：在给定总测试带宽和调节因子α条件下，对已行收缩的调度矩阵Z中的共p个测试链路成链对象进行总测试带宽‑总测试时间(W‑T)二维排序获得总测试时间T、测试并行数R、空闲率IR以及逻辑芯核测试调度策略等结果；所述步骤(5)调度矩阵Z总测试带宽‑调节因子(W‑α)双重遍历是：从已行收缩的调度矩阵Z中获取所有有效的总测试带宽W值和调节因子α值，通过对调度矩阵Z总测试带宽‑总测试时间(W‑T)二维调度排序进行总测试带宽‑调节因子(W‑α)双重遍历，从而获所有的结果，并按先总测试时间T再空闲率IR最后测试并行数R的优先级对结果进行排序，从而确定最终的唯一测试结果；所述步骤(6)报告生成是：以上所有步骤操作过程中的各个细节和结果分别形成文本和图形报告。