从光学记录介质再现数据的方法

摘要

提供一种从光学记录介质再现数据的方法，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述方法包括：从设置在导入区或导出区中的临时缺陷管理区再现临时盘定义结构，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息，其中，所述缺陷管理开/关模式是允许再现设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行的信息。

主权项

一种从光学记录介质再现数据的方法，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、设置在导入区或导出区中的临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述临时缺陷管理区存储关于在数据区中检测的缺陷的临时缺陷信息以及用于管理临时缺陷信息的临时盘定义结构，所述缺陷管理区存储最终的临时缺陷信息和最终的临时盘定义结构，所述最终的临时缺陷信息和最终的临时盘定义结构在所述光学记录介质的最终确定期间记录在所述临时缺陷管理区中，所述方法包括：从所述临时缺陷管理区再现临时盘定义结构，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开模式或缺陷管理关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息；通过使用所述临时盘定义结构从数据区再现数据，其中，备用区中将记录用于替换关于在数据区中产生的缺陷的缺陷块的替换块，并且当选择缺陷管理开模式时在数据区中分配所述备用区，当选择缺陷管理关模式时在数据区中不分配所述备用区，其中，所述缺陷管理开模式是允许再现设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理已经被执行的信息，并且所述缺陷管理关模式是允许再现设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理没有被执行的信息。