<p>Die Erfindung bezieht sich auf ein Endoskop zur Messung der Topographie einer Oberfläche (4) mit einer Projektionseinheit (6) und einer Abbildungseinheit (8), wobei die Projektionseinheit und die Abbildungseinheit bezüglich einer Endoskopachse (10) hintereinander angeordnet sind.</p>
申请公布号
WO2011039235(A1)
申请公布日期
2011.04.07
申请号
WO2010EP64428
申请日期
2010.09.29
申请人
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;SCHICK, ANTON;STOCKMANN, MICHAEL;KUNZ, MARTIN
