| 发明名称 | 用于检验存储器的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于检验存储器的方法，尤其是用于检验功能检验系统的功能监视存储器的方法，包括：执行(101)存储器检验例程，其中n次检验所述至少一个存储器，其中n是检验(103)的预先确定的数目；以及在经过预先确定的时间间隔之后重新执行(105)存储器检验例程。 | ||
| 申请公布号 | CN102005251A | 申请公布日期 | 2011.04.06 |
| 申请号 | CN201010263912.X | 申请日期 | 2010.08.25 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | 傅承煊 |
| 分类号 | G11C29/52(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/52(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李少丹;李家麟 |
| 主权项 | 一种用于检验至少一个存储器的方法，尤其是用于检验功能检验系统的功能监视存储器的方法，包括：执行(101)存储器检验例程，在其中n次检验所述至少一个存储器，其中n是检验(103)的预先确定的数目；以及在经过预先确定的时间间隔之后重新执行(105)所述存储器检验例程。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||