发明名称 | 低温薄膜晶体管工艺、装置特性、和装置稳定性改进 | ||
摘要 | 提供了一种用以形成一薄膜晶体管的方法和设备。形成一栅极介电层,它可能是双层的,第一层沉积以一低速率沉积,而第二层则以一高速率沉积。在一些实施方式中,该第一介电层是一富硅氮化硅层。形成一有源层,它亦可能是双层的,第一有源层以一低速率沉积,而第二有源层则以一高速率沉积。本文所述的薄膜晶体管具有优良的迁移率和压力下的稳定度。 | ||
申请公布号 | CN102007597A | 申请公布日期 | 2011.04.06 |
申请号 | CN200980113306.5 | 申请日期 | 2009.04.16 |
申请人 | 应用材料股份有限公司 | 发明人 | 杨亚堂;朴范洙;元泰景;崔寿永;约翰·M·怀特 |
分类号 | H01L29/786(2006.01)I | 主分类号 | H01L29/786(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 徐金国;赵静 |
主权项 | 一种用以形成一薄膜晶体管的方法,包含下列步骤:以一第一速率,在一基板上形成一富硅氮化硅层;以一第二速率,在该富硅氮化硅层上形成一氮化硅层;以一第三速率,在该氮化硅层上形成一第一非晶硅层;和以一第四速率,在该第一非晶硅层上形成一第二非晶硅层。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |