发明名称 低温薄膜晶体管工艺、装置特性、和装置稳定性改进
摘要 提供了一种用以形成一薄膜晶体管的方法和设备。形成一栅极介电层,它可能是双层的,第一层沉积以一低速率沉积,而第二层则以一高速率沉积。在一些实施方式中,该第一介电层是一富硅氮化硅层。形成一有源层,它亦可能是双层的,第一有源层以一低速率沉积,而第二有源层则以一高速率沉积。本文所述的薄膜晶体管具有优良的迁移率和压力下的稳定度。
申请公布号 CN102007597A 申请公布日期 2011.04.06
申请号 CN200980113306.5 申请日期 2009.04.16
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 杨亚堂;朴范洙;元泰景;崔寿永;约翰·M·怀特
分类号 H01L29/786(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 徐金国;赵静
主权项 一种用以形成一薄膜晶体管的方法,包含下列步骤:以一第一速率,在一基板上形成一富硅氮化硅层;以一第二速率,在该富硅氮化硅层上形成一氮化硅层;以一第三速率,在该氮化硅层上形成一第一非晶硅层;和以一第四速率,在该第一非晶硅层上形成一第二非晶硅层。
地址 美国加利福尼亚州