发明名称 |
用于具有单元间干扰的闪存的序列检测 |
摘要 |
一种存储器集成电路(IC)包括读取模块和序列检测器模块。读取模块读取沿位线和字线之一设置的S个存储单元(单元)并且生成S个读取信号,这里S是大于1的整数。序列检测器模块基于S个读取信号和参考信号检测数据序列。该数据序列包含存储在S个单元中的数据。每个参考信号包含与S个单元中的一个单元相关的无干扰信号以及与S个单元中的另一个单元相关的干扰信号,所述S个单元中的另一个单元与所述S单元中的一个单元相邻。 |
申请公布号 |
CN102007539A |
申请公布日期 |
2011.04.06 |
申请号 |
CN200880104940.8 |
申请日期 |
2008.08.27 |
申请人 |
马维尔国际贸易有限公司 |
发明人 |
阳学仕;吴子宁 |
分类号 |
G11C7/02(2006.01)I;G11C7/10(2006.01)I |
主分类号 |
G11C7/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
宋鹤;南霆 |
主权项 |
一种存储器集成电路(IC),包括:读取模块,其读取沿位线和字线之一设置的S个存储器单元(单元)并且生成S个读取信号,这里S是大于1的整数;以及序列检测器模块,其基于所述S个读取信号和参考信号检测数据序列,其中所述数据序列包含存储在所述S个单元中的数据,并且其中每个所述参考信号包括与所述S个单元中的一个单元相关的无干扰信号、以及与所述S个单元中的另一个单元相关的干扰信号,其中所述S个单元中的所述另一个单元与所述S个单元中的所述一个单元相邻。 |
地址 |
巴巴多斯圣迈克尔 |