| 发明名称 | 发射功率获取方法、信道质量/干扰强度测量方法及系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种发射功率获取方法、信道质量/干扰强度测量方法及系统。其中，上述信道质量测量方法用于测量无线通信系统中的信道质量信息，具体包括：基站通过下行信道在频率分区上发送参考信号，以使终端通过该参考信号测量上述频率分区的信道质量信息。根据本发明，基站可以根据各个频率分区的发射功率通过下行信道在各个频率分区上发送参考信号，以使终端通过参考信号测量各个频率分区的信道质量信息，从而可以提高终端上测量的信道质量信息的准确性。 | ||
| 申请公布号 | CN102006603A | 申请公布日期 | 2011.04.06 |
| 申请号 | CN200910171731.1 | 申请日期 | 2009.08.28 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 刘锟;鲁照华;朱登魁;刘向宇;刘颖;方惠英 |
| 分类号 | H04W24/00(2009.01)I;H04W52/04(2009.01)I | 主分类号 | H04W24/00(2009.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 一种信道质量测量方法，用于测量无线通信系统中的信道质量信息，其特征在于，所述方法包括：基站通过下行信道在频率分区上发送参考信号，以使终端通过所述参考信号测量所述频率分区的信道质量信息。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区科技南路55号 | ||