发明名称 一种绝缘体上硅器件及其制备方法
摘要 本发明涉及一种绝缘体上硅器件及其制备方法,属于半导体器件技术领域。所述绝缘体上硅器件为采用p型绝缘体上硅晶圆制备的绝缘体上硅器件,包括p型底部硅衬底、埋氧层以及形成于顶层硅膜内的N型场效应晶体管和P型场效应晶体管,所述N型场效应晶体管和P型场效应晶体管分别位于体区中,均包括漏极、源极、栅极和体引出部分;所述包含N型场效应晶体管的体区和包含P型场效应晶体管体区之间是电学隔离的。本发明的绝缘体上硅器件可以有效地抑制浮体效应,源漏对称,无额外寄生电容,在保持SOI电路优势的同时,可以最大程度地与主流体硅工艺和设计兼容。
申请公布号 CN101621064B 申请公布日期 2011.04.06
申请号 CN200910305117.X 申请日期 2009.08.03
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 毕津顺;海潮和;韩郑生;罗家俊
分类号 H01L27/12(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/84(2006.01)I 主分类号 H01L27/12(2006.01)I
代理机构 北京市德权律师事务所 11302 代理人 王建国
主权项 一种绝缘体上硅器件,包括p型底部硅衬底(104)、埋氧层(103)以及形成于顶层硅膜(102)内的N型场效应晶体管(66)和P型场效应晶体管(68),其特征在于,所述N型场效应晶体管(66)位于体区(608)中,其包括漏极(96)、源极(500)、栅极(92)和体引出部分(56),所述体引出部分(56)为+3价离子掺杂的多晶硅;所述P型场效应晶体管(68)位于体区(610)中,其包括漏极(98)、源极(550)、栅极(92)和体引出部分(58),所述体引出部分(58)为+5价离子掺杂的多晶硅;所述体区(608)和体区(610)之间是电学隔离的,所述p型底部硅衬底(104)上具有深N型阱(310),所述深N型阱(310)注入有+5价离子,所述包含N型场效应晶体管(66)的体区(608)通过所述体引出部分(56)与所述p型底部硅衬底(104)电连接,所述包含P型场效应晶体管(68)的体区(610)通过所述体引出部分(58)与所述深N型阱(310)电连接。
地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号中科院微电子所
您可能感兴趣的专利