发明名称 |
光盘用信号处理装置、集成电路、光盘装置和最佳记录焦点位置检测方法 |
摘要 |
一种光盘用信号处理装置,包括:当进行了使焦点位置按多个种类进行变化的测试记录时,根据光盘中的进行了测试记录的区域的记录品质来求出最佳记录焦点位置的焦点位置确定部。焦点位置确定部包括:对每个焦点位置测量光盘中的进行了测试记录的区域的记录品质的记录状态测量部;以及利用通过记录状态测量部得到的每个焦点位置的记录品质,按规定的判断基准来判断测试记录时的激光功率是否适合用于求出最佳记录焦点位置的判断部。当被判断部判断为测试记录时的激光功率不适合用于求出最佳记录焦点位置时,光盘用信号处理装置控制光学拾波器以变更激光功率,再次进行测试记录。 |
申请公布号 |
CN101490752B |
申请公布日期 |
2011.04.06 |
申请号 |
CN200780026050.5 |
申请日期 |
2007.07.09 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
森田胜己 |
分类号 |
G11B7/09(2006.01)I |
主分类号 |
G11B7/09(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
王茂华;于英慧 |
主权项 |
一种光盘用信号处理装置,用于控制光盘的记录再现,其特征在于,包括:控制光学拾波器的驱动控制部;和当进行了使焦点位置按多个种类进行变化的测试记录时,根据上述光盘中的进行了上述测试记录的区域的记录品质来求出最佳记录焦点位置的焦点位置确定部,其中,上述焦点位置确定部包括:对每个焦点位置测量上述光盘中的进行了上述测试记录的区域的记录品质的记录状态测量部;和利用通过上述记录状态测量部得到的每个焦点位置的记录品质,按规定的判断基准来判断上述测试记录时的激光功率是否适合用于求出最佳记录焦点位置的判断部,当被上述判断部判断为上述测试记录时的激光功率不适合用于求出最佳记录焦点位置时,上述驱动控制部控制上述光学拾波器,以变更激光功率来再次进行上述测试记录,上述规定的判断基准是:通过上述记录状态测量部得到的每个焦点位置的记录品质的最大值与最小值之差为第一规定值以下,并且记录品质的至少任意1个为第二规定值以上,上述判断部在通过上述记录状态测量部得到的每个焦点位置的记录品质满足上述规定的判断基准时,判断为上述测试记录时的激光功率不适合用于求出最佳记录焦点位置,当被上述判断部判断为上述测试记录时的激光功率不适合用于求出最佳记录焦点位置时,上述驱动控制部控制上述光学拾波器,以降低激光功率来再次进行上述测试记录。 |
地址 |
日本大阪府 |