发明名称 | 一种用于形成磁存储器件的方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种包括去离子水和有机酸的蚀刻剂溶液,该有机酸具有羧基和氢氧基。还公开了用于形成磁存储器件的方法。 | ||
申请公布号 | CN1740396B | 申请公布日期 | 2011.04.06 |
申请号 | CN200510088504.4 | 申请日期 | 2005.08.02 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金有京;洪昌基;崔相俊;韩政男 |
分类号 | C23F1/16(2006.01)I | 主分类号 | C23F1/16(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 林宇清;谢丽娜 |
主权项 | 一种用于形成磁存储器件的方法,包括:在衬底上形成底部磁性层、隧道阻挡层以及顶部磁性层;在顶部磁性层的预定区域上形成掩模图形;利用包括去离子水和有机酸的蚀刻剂溶液,以从顶部磁性层向隧道阻挡层的上表面的方向,进行蚀刻,以形成顶部磁性图形,其中有机酸包括羧基和氢氧基并且相对于去离子水,有机酸具有0.05至50重量百分比;形成顶部磁性图形后,去除掩模图形;在衬底的整个表面上形成帽盖绝缘层;以及构图帽盖绝缘层、隧道阻挡层以及底部磁性层,以形成底部磁性图形、隧道阻挡图形以及帽盖绝缘图形,其中帽盖绝缘层覆盖顶部磁性图形的上表面和侧壁,而且其中相对于顶部磁性图形的平面区域,顶部磁性图形和隧道阻挡图形的平面区域较大。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |