| 发明名称 |
Transistor diagnostic circuit |
| 摘要 |
In one embodiment, a diagnostic circuit is used to test the on-resistance of a transistor.
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| 申请公布号 |
US7919976(B2) |
申请公布日期 |
2011.04.05 |
| 申请号 |
US20090548293 |
申请日期 |
2009.08.26 |
| 申请人 |
SEMICONDUCTOR COMPONENTS INDUSTRIES, LLC |
发明人 |
BALL ALAN R. |
| 分类号 |
G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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