发明名称 阻抗测试探针
摘要 本实用新型公开了一种阻抗测试探针,包括一套管和一测试针头,所述套管内设置有一铜轴电缆和一绝缘弹簧,所述测试针头的一端插接于所述套管内,所述绝缘弹簧连接所述测试针头和所述铜轴电缆,所述套管与所述铜轴电缆之间具有一绝缘树脂层,所述套管接地。本实用新型阻抗测试探针在将测试针头接触到待测试物时,由于绝缘弹簧的绝缘阻隔使得待测试物上的静电由测试针头通过套管流向地,而当测试针头下压待测试物压缩绝缘弹簧使得测试针头与铜轴电缆导通测试时,此时待测试件和测试针头上的静电已经导走,没有静电,如此就能防止静电直接传输到TDR测试模块上使得TDR测试模块被静电击穿的情况,起到保护TDR测试模块的作用。
申请公布号 CN201780334U 申请公布日期 2011.03.30
申请号 CN201020285831.5 申请日期 2010.08.09
申请人 深南电路有限公司 发明人 陈国周;杨青枝;李刚
分类号 G01R27/02(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人 张明
主权项 一种阻抗测试探针,其特征在于,包括一套管和一测试针头,所述套管内设置有一铜轴电缆和一绝缘弹簧,所述测试针头的一端插接于所述套管内,所述绝缘弹簧连接所述测试针头和所述铜轴电缆,所述套管与所述铜轴电缆之间具有一绝缘树脂层,所述套管接地。
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