发明名称 一种快速光谱仪及其测量方法
摘要 本发明涉及一种快速光谱仪及其测量方法,包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的快速光谱解析系统,在快速光谱解析系统上连接有用于采集光信号并将其传送至快速光谱解析系统的光信号采集装置,所述的快速光谱解析系统与微控制器电连接,其特征在于,它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头,该参考探头通过一个可将模拟信号转换为数字信号的信号转换电路与上述的微控制器电连接。本发明利用参考探头实现大跨度动态范围内光度量或辐射度量的线性测量,并且利用分光法的测量结果,将探头的测量结果校正为精确值。在电脑中存储有各种已知的标准值,以便于在校正时调用,对测量值进行校正,因此,能够有效地提高测量精度。
申请公布号 CN101290246B 申请公布日期 2011.03.30
申请号 CN200710068109.9 申请日期 2007.04.17
申请人 杭州远方光电信息股份有限公司 发明人 潘建根;沈海平;丁鹏飞
分类号 G01J3/30(2006.01)I 主分类号 G01J3/30(2006.01)I
代理机构 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人 林宝堂
主权项 一种阵列探测光谱仪,包括一个用于测量待测光源光谱功率分布的阵列探测器光谱解析系统(1),在阵列探测器光谱解析系统(1)上连接有用于采集光信号并将其传送至阵列探测器光谱解析系统(1)的光信号采集装置(2),所述的阵列探测器光谱解析系统(1)与微控制器(3)电连接,其特征在于,它还包括一个用于测量待测光源光度量或辐射度量的参考探头(4),该参考探头(4)通过一个信号转换电路(5)与上述的微控制器(3)电连接;所述的微控制器(3)与电脑(6)电连接,并可与其进行数据交换;所述电脑(6)将参考探头(4)的测量值结合阵列探测器光谱解析系统(1)测得的待测光源光谱功率分布进行测量值校正。
地址 310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号