发明名称 带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜
摘要 本发明涉及一种带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,包括基底,和依次沉积在基底上的第一保护层、氧化物掩模层、第二保护层、第一金属薄膜和第二金属薄膜;所述的第一金属薄膜和第二金属薄膜,是两种金属在相对较低温度≤500℃下,能形成二元合金的材料的组合;所述的第一保护层厚度为100nm—200nm,所述的掩模层厚度为2nm—30nm,所述的第二保护层厚度为10nm—50nm。本发明的带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,采用超分辨近场结构和无机热阻膜结合的多层膜结构。在微纳米加工过程中,采用此多层膜结构制作光刻原片,利用普通曝光系统或直写式曝光系统实现曝光,能够简单获得高分辨率的曝光图形。能够在简单地获得高分辨率曝光图形的同时,有效增加纳米构造的高度。
申请公布号 CN101286005B 申请公布日期 2011.03.30
申请号 CN200710065294.6 申请日期 2007.04.10
申请人 国家纳米科学中心 发明人 刘前;曹四海;郭传飞;李晓军
分类号 G03F7/004(2006.01)I 主分类号 G03F7/004(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 高存秀
主权项 一种带有氧化物掩模的局域微缩光刻膜,包括基底(1),和依次溅射沉积在基底(1)上的第一保护层(9)、氧化物掩模层(8)和第二保护层(7);其特征在于:还包括第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B);该第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B)顺序生长在第二保护层(7)上,所述的第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B)是能在温度≤500℃下,一起形成二元合金的金属材料;所述的第一金属薄膜(A)和第二金属薄膜(B)的厚度分别为5nm‑100nm。
地址 100080 北京市中关村北一街2号