| 发明名称 |
INTEGRIERTE SCHALTUNG MIT JTAG-PORT, ABGRIFFS-VERK-PORT |
| 摘要 |
<p>An IC includes an IEEE 1149.1 standard test access port (TAP) interface and an additional Off-Chip TAP interface. The Off-Chip TAP interface connects to the TAP of another IC. The Off Chip TAP interface can be selected by a TAP Linking Module on the IC.</p> |
| 申请公布号 |
DE602004031349(D1) |
申请公布日期 |
2011.03.24 |
| 申请号 |
DE20046031349T |
申请日期 |
2004.08.30 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INC. |
发明人 |
WHETSEL, LEE D. |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/267 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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