一种测量土壤孔隙率的方法

摘要

本发明涉及一种根据土壤表面粗糙度测量土壤表层孔隙率的方法。所述方法包括以下步骤：在土壤表面选择采样点，在土壤上方选择水平面，测量采样点到水平面的距离，计算土壤表面粗糙度量化指数，计算得到土壤表面孔隙率。该方法与现有技术相比，具有快速、无损、高精度的优点。

主权项

一种测量土壤表面粗糙度的设备，其特征在于，该设备包括：支架，定位部件，固定在所述支架上，包括位于与地面平行的同一平面内的相互垂直的X轴导轨和Y轴导轨，所述Y轴导轨滑动连接在所述X轴导轨上；测量部件，滑动连接在所述Y轴导轨上，用于测量地表任一点到X、Y轴导轨平面的距离；控制部件，包括X轴步进电机和Y轴步进电机，其中，所述X轴步进电机与所述Y轴导轨连接，用于控制所述Y轴导轨在所述X轴导轨上滑动，所述Y轴步进电机与所述测量部件连接，用于控制所述测量部件在所述Y轴导轨上滑动；上位机，用来发出采样点坐标定位指令；位于X轴导轨的X轴水平调节螺栓和位于所述支架上的Y轴水平调节螺栓，用来实现所述X轴导轨和Y轴导轨的水平调节；指示部件，位于所述X轴导轨和Y轴导轨的交叉点处，用来指示所述设备的XY轴所在的平面是否水平。