| 发明名称 | 一种微小推力测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种微小推力测量装置，包括测试计算机、天平、位移传感器、电磁阻尼器、待测系统通讯线路以及待测系统供电线路；天平包括天平支座、固定在天平支座上的天平支刀、放置在天平支刀上的天平横梁、设置在天平横梁右端的配重质量块；天平横梁的右端可悬挂砝码；位移传感器设置在天平横梁的右端部；电磁阻尼器设置在天平横梁右端和天平支座之间；待测系统供电线路从天平支刀与天平横梁接触的部位引入，并固定于天平横梁上。本发明解决现有推力测量装置无法消除微推进系统内各种供气、供液管路以及供电线路对形变产生的影响的技术问题。本发明将微推进系统整体测量，彻底消除了推进剂供应管路对推力测量的影响。 | ||
| 申请公布号 | CN101726382B | 申请公布日期 | 2011.03.23 |
| 申请号 | CN200910312194.8 | 申请日期 | 2009.12.24 |
| 申请人 | 中国航天科技集团公司第六研究院第十一研究所 | 发明人 | 张晰哲;韩先伟;陈祖奎;宦飞;管海兵 |
| 分类号 | G01L5/00(2006.01)I | 主分类号 | G01L5/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人 | 王少文 |
| 主权项 | 一种微小推力测量装置，其特征在于：包括测试计算机(17)、天平(1)、位移传感器(3)、电磁阻尼器(5)、待测系统通讯线路以及待测系统供电线路；所述天平(1)包括天平支座(6)、固定在天平支座(6)上的天平支刀(12)、放置在天平支刀(12)上的天平横梁(8)、设置在天平横梁(8)右端的配重质量块(2)；所述天平横梁(8)的左端用于放置待测系统(13)；所述天平横梁(8)的右端可悬挂砝码(14)；所述位移传感器(3)设置在天平横梁(8)的右端部，用于测量天平横梁(8)右端的位移；所述电磁阻尼器(5)设置在天平横梁(8)右端和天平支座(6)之间，用于输出平衡力矩使天平横梁(8)快速达到稳定；所述待测系统供电线路从天平支刀(12)与天平横梁(8)接触的部位引入，并固定于天平横梁(8)上。 | ||
| 地址 | 710100 陕西省西安市15号信箱11分箱 | ||