发明名称 计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法
摘要 一种计数装置、物理量传感器、计数方法以及物理量测量方法,其可以对计数误差进行校正。计数装置(7)对一定的计数期间中的干涉波形的半周期的数量进行计数,对干涉波形的半周期进行测定,基于该测定结果生成计数期间中的干涉波形的半周期的频数分布,再基于该频数分布,计算出干涉波形的半周期的分布的代表值,求出不足代表值的0.5倍的半周期的数量的总和Ns、及在代表值的2n倍以上且不足(2n+2)倍的半周期的数量的总和Nwn,并基于这些频数Ns和Nwn校正计数结果。
申请公布号 CN101988851A 申请公布日期 2011.03.23
申请号 CN201010246671.8 申请日期 2010.07.30
申请人 株式会社山武 发明人 上野达也
分类号 G01H9/00(2006.01)I;G01J11/00(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I 主分类号 G01H9/00(2006.01)I
代理机构 上海市华诚律师事务所 31210 代理人 孙敬国
主权项 一种计数装置,其在特定的物理量和信号的数量具有线性关系、且所述特定的物理量一定的情况下,对为大致单一频率的所述信号进行计数,其特征在于,该计数装置包括:信号计数单元,对一定的计数期间的输入信号的半周期的数量进行计数;信号半周期测定单元,在每次输入半个周期的信号量时,对所述计数期间中的所述输入信号的半周期进行测定;频数分布生成单元,基于该信号半周期测定单元的测定结果来生成所述计数期间中的输入信号的半周期的频数分布;代表值算出单元,基于所述频数分布,计算出所述输入信号的半周期的分布的代表值;和校正值算出单元,基于所述信号半周期测定单元的测定结果,求出不足所述代表值的0.5倍的半周期的数量的总和Ns、以及所述代表值的2n倍以上且不足(2n+2)倍的半周期的数量的总和Nwn,通过基于这些频数Ns和Nwn对所述信号计数单元的计数结果进行校正,其中n是1以上的自然数。
地址 日本国东京都千代田区丸之内2丁目7番3号