存储器测试方法和外部测试仪

摘要

一种存储器测试方法和外部测试仪，所述存储器测试方法包括：根据与连接单元距离的远近，选取初始测试单元，对所述初始测试单元进行测试；依照预定顺序，选择下一个存储单元进行测试，直至遍历所有需要测试的存储单元。本发明使得每次对待测存储器进行操作时，先对与连接单元邻近的所有存储单元进行操作，且每次的初始测试单元可为不同的存储单元，从而避免了同一个初始存储单元相较于其它存储单元更容易损坏，有利于保证存储器的稳定性和寿命的延长。

主权项

一种存储器测试方法，包括：根据与连接单元距离的远近，选取初始测试单元，对所述初始测试单元进行测试；依照预定顺序，选择下一个存储单元进行测试，直至遍历所有需要测试的存储单元。