Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung eines Objektes auf Materialfehler mittels Röntgenstrahlen

摘要

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Untersuchung eines Objekts (1) auf Materialfehler. Dabei werden eine Multi-Emitter-Röntgenquelle (8), wenigstens ein Detektor (6) und ein Steuerungssystem (10) zur Ansteuerung von Emittern (12, 12') der Multi-Emitter-Röntgenquelle (8) verwendet. Eine selektive Aktivierung einzelner Emitter (12, 12') oder eines Teils der Emitter nach Maßgabe wenigstens einer auf das untersuchte Objekt (1) bezogenen Information wird vorgenommen. Die Erfindung erlaubt eine flexible und aufwandsarme Materialüberprüfung.