发明名称 |
测量及补偿接收机参数的方法及装置 |
摘要 |
本申请提供了一种测量及补偿接收机参数的方法及装置。该接收机包括一混频电路用以根据一输入信号产生一同相分量信号以及一正交分量信号,一同相通道链路用以处理同相分量信号,以及一正交通道链路用以处理正交分量信号。测量接收机参数的方法包括以下步骤:在混频电路之前向接收机输入第一测试信号;在同相通道链路上向接收机输入第二测试信号,在正交通道链路上向接收机输入第三测试信号;以及利用第一测试信号、第二测试信号以及第三测试信号测量获得I/Q正交偏差以及I/Q延迟不平衡。利用本申请的方法可将I/Q正交偏差与I/Q延迟不平衡分离,因此有利于有针对性地修改芯片设计以提升芯片性能。 |
申请公布号 |
CN101986580A |
申请公布日期 |
2011.03.16 |
申请号 |
CN200910055538.1 |
申请日期 |
2009.07.29 |
申请人 |
澜起科技(上海)有限公司 |
发明人 |
冯珅;胡刚;聂远飞;吴美武;陈宇;斯笑岷;尤立中 |
分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海翰鸿律师事务所 31246 |
代理人 |
李佳铭 |
主权项 |
一种测量一接收机参数的方法,该接收机包括一混频电路用以根据一输入信号产生一同相分量信号以及一正交分量信号,一同相通道链路用以处理所述同相分量信号,以及一正交通道链路用以处理所述正交分量信号,所述方法包括以下步骤:在所述混频电路之前向所述接收机输入第一测试信号;在所述同相通道链路上向所述接收机输入第二测试信号,在所述正交通道链路上向所述接收机输入第三测试信号;以及利用所述第一测试信号、第二测试信号以及第三测试信号测量获得I/Q正交偏差以及I/Q延迟不平衡。 |
地址 |
200233 上海市桂平路680号创业中心大厦406室 |