| 发明名称 | 陶瓷结构件的检查方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及陶瓷结构件检查方法。本发明提供的陶瓷结构件的检查方法，不仅能以非破坏、简便的方式，而且能在短时间内弄清陶瓷结构件内部缺陷的位置和大小，还能把握内部缺陷的正确位置和形状及大小等。该方法是，当沿着陶瓷结构件的整个周边照射X射线，且利用透过的X射线扫描所述陶瓷结构件的全周，测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时，照射X射线的X射线管的管电压是400～80kV，且所述X射线管的管电流是2～400mA。 | ||
| 申请公布号 | CN1677099B | 申请公布日期 | 2011.03.16 |
| 申请号 | CN200510056946.0 | 申请日期 | 2005.03.24 |
| 申请人 | 日本碍子株式会社 | 发明人 | 加藤茂树 |
| 分类号 | G01N23/18(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 熊志诚 |
| 主权项 | 一种陶瓷结构件的检查方法，其特征在于：当沿着陶瓷结构件的整个周边螺旋状地连续照射X射线，且利用透过的X射线螺旋状地掠过扫描所述陶瓷结构件的全周，测定断层面的X射线吸收系数(CT值)的分布时，照射X射线的X射线管的管电压是400～80kV，且所述X射线管的管电流是2～400mA。 | ||
| 地址 | 日本爱知 | ||