发明名称 |
TD-SCDMA终端发射信号信噪比的测量方法和系统 |
摘要 |
本发明公开一种TD-SCDMA终端发射信号信噪比的测量方法,包括以下步骤。首先,将待测终端通过一天线测试塔连接一终测仪。接着,使所述终端发射上行导频时隙(UpPTS)。再者,所述终测仪收到终端发射的UpPTS后测量该发射信号的信噪比,并把该发射信噪比包含在一快速物理接入信道(FPACH)的突发结构中下传给所述终端;之后,所述终端从所述FPACH中解析获得终端的发射信噪比。本发明还提供一种TD-SCDMA终端发射信号信噪比的测量系统。 |
申请公布号 |
CN101534515B |
申请公布日期 |
2011.03.09 |
申请号 |
CN200810034583.4 |
申请日期 |
2008.03.13 |
申请人 |
展讯通信(上海)有限公司 |
发明人 |
郭为 |
分类号 |
H04W24/00(2006.01)I;H04B17/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04W24/00(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陈亮 |
主权项 |
一种TD‑SCDMA终端发射信号信噪比的测量方法,包括以下步骤:a.将待测终端通过一天线测试塔与一终测仪连接;b.使所述终端发射上行导频时隙;c.所述终测仪收到终端发射的上行导频时隙后测量该发射信号的信噪比,并把该发射信号的信噪比包含在一快速物理接入信道的突发结构中下传给所述终端;d.所述终端从所述快速物理接入信道的突发结构中解析获得终端的发射信号的信噪比。 |
地址 |
201203 上海市浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼 |