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一种LED元件测试装置，其包括一基板以及至少一检测电路，该基板包括一承载表面，并具有一电连接部以传输测试所需的电力，该检测电路设置于基板上，并具有一容置槽，其开口设置于该基板的承载表面上，且与该电连接部电性连接，该容置槽的侧壁上具有两电极接点连接该检测电路，该容置槽与LED元件相对应并可使该LED元件插入该容置槽内，从而与该检测电路构成一检测回路。如申请专利范围第1项所述的LED元件测试装置，其中，该电连接部包括至少一个第一电极接点、以及至少一个第二电极接点。如申请专利范围第1项所述的LED元件测试装置，其中，该检测电路的两个电极接点设置在该容置槽内，并分别与该电连接部的第一电极接点及第二电极接点通过该检测电路相互电性连接。如申请专利范围第3项所述的LED元件测试装置，其中，该检测电路的两个电极接点设置在该容置槽一个垂直于该基板的承载表面的侧壁上，并分别与该电连接部的第一电极接点及第二电极接点通过该检测电路相互电性连接。如申请专利范围第1项所述的LED元件测试装置，其中，该LED元件为侧光型LED元件，其发光面和底面相互垂直。 |
