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一种电子标签测试装置，用以对一卷带式电子标签结构之每一电子标签单独进行测试，其中每一该电子标签系具有一第一天线，该电子标签测试装置系包含：一腔体结构，其系具有一开槽区域；一吸波材料，其系设置于该腔体结构之内表面上；一第二天线，其系设置于该腔体结构中且与该开槽区域相对应设置；一读取器，其系与该第二天线连接；以及一传动机构，其系与该卷带式电子标签结构连接，用以带动该卷带式电子标签结构转动，以使单一该电子标签移动至该开槽区域；其中，该第二天线系因应该读取器的驱动而传送一测试信号至该电子标签，而该电子标签将因应该测试信号而经由该第一天线输出一反射信号，该第二天线系接收该反射信号并传送至该读取器，俾使该读取器根据该反射信号来判断该电子标签之运作特性。如申请专利范围第1项所述之电子标签测试装置，其中该电子标签系适用于无线射频辨识技术。如申请专利范围第1项所述之电子标签测试装置，其中该腔体结构之垂直高度系至少大于该第一天线发射频率之半波长。如申请专利范围第1项所述之电子标签测试装置，其中电子标签测试装置包含一控制电脑，其系与该读取器及该传动机构连接，用以接收该读取器关于该反射信号之读取结果以及控制该传动机构运作。如申请专利范围第4项所述之电子标签测试装置，其中该传动机构系为一滚轮，其系受该控制电脑驱动，用以将单一该电子标签移动至该开槽区域。如申请专利范围第4项所述之电子标签测试装置，其中该读取器亦与该控制电脑连接，用以因应该控制电脑的控制而调整该测试信号之输出功率。如申请专利范围第1项所述之电子标签测试装置，其中该读取器系藉由调整该测试信号之输出功率，并根据该反射信号之读取结果来判断所对应之该电子标签的可读取距离。如申请专利范围第1项所述之电子标签测试装置，其中该开槽区域之空间大小系因应该电子标签之尺寸而动态调整。如申请专利范围第1项所述之电子标签测试装置，其中该电子标签测试装置更包含一标注器，用以根据该读取器之读取结果于相对应之该电子标签上进行标注。一种电子标签之测试方法，其系适用于一卷带式电子标签结构及一电子标签测试装置，其中该电子标签测试装置系具有一腔体结构及一读取器，至少包含下列步骤：(a)于该腔体结构中定义与该卷带式电子标签结构之单一该电子标签相配合之一开槽区域；(b)将该卷带式电子标签结构中之单一该电子标签移动至该开槽区域；(c)传送一测试信号至该电子标签，使该电子标签因应该测试信号而输出一反射信号，并根据该反射信号之读取结果来判断该电子标签之运作效能。如申请专利范围第10项所述之电子标签之测试方法，其中该步骤(c)更包含下列步骤：(c1)依序调整该反射信号之输出功率，俾使该读取器根据该反射信号之读取结果而得知该电子标签之可读取距离。如申请专利范围第10项所述之电子标签之测试方法，其中该步骤(c)后更可包含下列步骤：(d)根据该读取器所判断之运作效能，对相对应之该电子标签进行标注。(e)将下一个该电子标签移动至该开槽区域，并进行步骤(c)至(d)之侦测流程。如申请专利范围第10项所述之电子标签之测试方法，其中该电子标签测试装置系藉由一标注器对该电子标签进行标注。如申请专利范围第10项所述之电子标签之测试方法，其中该卷带式电子标签结构系藉由一传动机构来带动。 |
