发明名称 Anordnung zur optischen Inspektion von Bestückungsvorgängen
摘要 Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur optischen Inspektion von Bestückungsvorgängen in einer herkömmlichen Bestückanordnung (BA), insbesondere in einem Bestückautomaten zum Bestücken von Substraten (LP1, LP2) mit elektronischen Bauelementen. Bei dieser Anordnung sind ein modular aufgebautes Portal für eine optische Inspektion (AOI) und eine mobile Datenverarbeitungseinheit (DV) in die Bestückanordnung (BA) integriert. Für eine Integration ist das Portal für die optische Inspektion (AOI), welches zumindest ein modulares Portal (MP), einen Kabelschlepp (KS2) für eine Verbindung mit der Bestückanordnung (BA) und eine sogenannte AOI-Einrichtung (AK) umfasst, anstelle von zumindest einem Bestückportal (P, KS1, BK) oder als zusätzliches Portal vorgesehen. Die mobile Datenverarbeitungseinheit (DV) ist an einem für Zuführeinrichtungen (ZF) vorgesehenen Stellplatz der Bestückanordnung (BA) angebracht und dazu geeignet, das Portal für eine optische Inspektion (AOI) anzusteuern und Daten des Portals (AOI) auszuwerten. Die erfindungsgemäße Anordnung weist damit den Vorteil auf, dass auf flexible Weise eine optische Inspektion während des Bestückungsvorgangs durchgeführt werden kann. Durch den modularen Aufbau der Anordnung kann diese auf einfache Weise und mit geringem Aufwand an z.B. neue Produkte, etc. angepasst werden. Durch die Integration in eine herkömmliche Bestückanordnung (BA) werden zusätzlich Stellplatz und Kosten gespart.
申请公布号 DE102009014008(B4) 申请公布日期 2011.02.17
申请号 DE200910014008 申请日期 2009.03.19
申请人 SIEMENS ELECTRONICS ASSEMBLY SYSTEMS GMBH & CO. KG 发明人 SCHUMANN, FRANK JENS;STREIFF, SVEN-HOLGER
分类号 H05K13/02 主分类号 H05K13/02
代理机构 代理人
主权项
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