发明名称 Bestimmung von Strahlparametern für asymmetrische Photonenstrahlen
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung eines Strahlparameters eines durch einen Beschleuniger generierten, asymmetrischen Photonenstrahls. Dabei wird ein Strahlprofil eines symmetrischen Photonenstrahls gemessen und anschließend normiert. Für den asymmetrischen Photderart durchgeführt, dass das Maximum des Profils dem Wert des normierten symmetrischen Strahlprofils am Ort des Maximums entspricht. Die Parameterbestimmung kann dann mit einer üblichen Strahlparameterdefinition erfolgen. Der Parameter kann mit der erfindungsgemäßen Vorgehensweise genauer als herkömmlich bestimmt werden.
申请公布号 DE102009035951(A1) 申请公布日期 2011.02.17
申请号 DE200910035951 申请日期 2009.08.03
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 EHRINGFELD, CHRISTIAN
分类号 G01T1/29;A61N5/10 主分类号 G01T1/29
代理机构 代理人
主权项
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