发明名称 |
硅片的后清洗工艺 |
摘要 |
本发明涉及太阳能电池生产方法技术领域,尤其是一种硅片的后清洗工艺,其具有如下步骤:a.将多晶硅片硅片制绒、扩散,得到25~80ohm/Sq的均匀扩散区;b.再用酸溶液进行腐蚀,酸溶液中:HF体积浓度占1.6%~4.5%,HNO3体积浓度占20%~30%,CH3COOH体积浓度占33%~39%,其余为H2O,将腐蚀时间控制在20~180秒,温度为15~25℃。本发明硅片的后清洗工艺,通过优化溶液配比,可精确控制溶液的反应速率,而且硅片表面的反射率没有提高,从而提高了太阳能电池的效率。 |
申请公布号 |
CN101976700A |
申请公布日期 |
2011.02.16 |
申请号 |
CN201010238237.5 |
申请日期 |
2010.07.28 |
申请人 |
常州天合光能有限公司 |
发明人 |
张学玲 |
分类号 |
H01L31/18(2006.01)I;C23F1/24(2006.01)I |
主分类号 |
H01L31/18(2006.01)I |
代理机构 |
常州市维益专利事务所 32211 |
代理人 |
王凌霄 |
主权项 |
一种硅片的后清洗工艺,其特征是:具有如下步骤:a.将多晶硅片硅片制绒、扩散,得到25~80ohm/Sq的均匀扩散区;b.再用酸溶液进行腐蚀,酸溶液中:HF体积浓度占1.6%~4.5%,HNO3体积浓度占20%~30%,CH3COOH体积浓度占33%~39%,其余为H2O,将腐蚀时间控制在20~180秒,温度为15~25℃。 |
地址 |
213031 江苏省常州市新北区电子产业园天合路2号 |