发明名称 硅片的后清洗工艺
摘要 本发明涉及太阳能电池生产方法技术领域,尤其是一种硅片的后清洗工艺,其具有如下步骤:a.将多晶硅片硅片制绒、扩散,得到25~80ohm/Sq的均匀扩散区;b.再用酸溶液进行腐蚀,酸溶液中:HF体积浓度占1.6%~4.5%,HNO3体积浓度占20%~30%,CH3COOH体积浓度占33%~39%,其余为H2O,将腐蚀时间控制在20~180秒,温度为15~25℃。本发明硅片的后清洗工艺,通过优化溶液配比,可精确控制溶液的反应速率,而且硅片表面的反射率没有提高,从而提高了太阳能电池的效率。
申请公布号 CN101976700A 申请公布日期 2011.02.16
申请号 CN201010238237.5 申请日期 2010.07.28
申请人 常州天合光能有限公司 发明人 张学玲
分类号 H01L31/18(2006.01)I;C23F1/24(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 常州市维益专利事务所 32211 代理人 王凌霄
主权项 一种硅片的后清洗工艺,其特征是:具有如下步骤:a.将多晶硅片硅片制绒、扩散,得到25~80ohm/Sq的均匀扩散区;b.再用酸溶液进行腐蚀,酸溶液中:HF体积浓度占1.6%~4.5%,HNO3体积浓度占20%~30%,CH3COOH体积浓度占33%~39%,其余为H2O,将腐蚀时间控制在20~180秒,温度为15~25℃。
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