一种用于太阳能电池芯片及组件的I-V特性测试系统

摘要

本实用新型公开了一种用于太阳能电池芯片及组件的I-V特性测试系统，该系统包括：模拟太阳光测试环境、I-V测试电路和多路数据采集器。模拟太阳光测试环境由温度可控可调的恒温测试箱，置于测试箱中的功率可以连续调节的模拟太阳光长弧氙灯、辐照度计组成。I-V测试电路由可调电子负载和电流采样器组成。样品的被测电压和电流，测试过程中控制的温度和辐照度由多路数据采集器进行数据处理。本实用新型的优点是：模拟太阳光光强连续可调；测试环境的温度可调可控；光源的辐照度可连续监测；具有处理单芯片及组件或多芯片及组件的测试能力。

主权项

一种用于太阳能电池芯片及组件的I V特性测试系统，包括：模拟太阳光测试环境、I V测试电路和多路数据采集器(8)，其特征在于：所述的模拟太阳光测试环境由温度可控可调的恒温测试箱(1)，置于测试箱中的功率可以连续调节的模拟太阳光长弧氙灯(2)、辐照度计(3)、放置检测模拟太阳光的辐照度计(3)及被测样品(4)的操作台(5)组成；所述的I V测试电路由可调电子负载(10)和电流采样器(9)组成；被测样品(4)的被测电压和电流采样器输出的被测电流，测试过程中控制的温度和辐照度由多路数据采集器(8)进行数据处理。