发明名称 电子组件高温老化智能检测系统
摘要 本发明涉及一种检测系统,特别涉及一种电子组件高温老化智能检测系统。为实现上述目的,本发明提供了如下技术方案:一种电子组件高温老化智能检测系统,包括有多个老化柜及与各老化柜联通的PC机,所述的各老化柜内分别设有与PC机构成信号传输的控制系统,控制系统包括有主MCU及与主MCU连接的多个从MCU,各从MCU分别与各自独立用于放置电子组件的承载板电连接,主MCU的输入端与各从MCU的输出端连接,主MCU的输出端与PC机连接。通过采用上述技术方案,提供了一种集高温加电老化、在线检测、数据统计为一体的电子组件板高温老化智能检测系统。
申请公布号 CN101975904A 申请公布日期 2011.02.16
申请号 CN201010517865.7 申请日期 2010.10.25
申请人 温州大学 发明人 赵升;谢文彬;叶鹏
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 温州瓯越专利代理有限公司 33211 代理人 吕晋英
主权项 一种电子组件高温老化智能检测系统,其特征在于:包括有多个老化柜及与各老化柜联通的PC机,所述的各老化柜内分别设有与PC机构成信号传输的控制系统,控制系统包括有主MCU及与主MCU连接的多个从MCU,各从MCU分别与各自独立用于放置电子组件的承载板电连接,主MCU的输入端与各从MCU的输出端连接,主MCU的输出端与PC机连接。
地址 325000 浙江省温州市茶山高教园区