PROBE CARD AND MICROSTRUCTURE INSPECTING APPARATUS,申请号KR20087020894-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	PROBE CARD AND MICROSTRUCTURE INSPECTING APPARATUS
摘要
申请公布号	KR101013594(B1)	申请公布日期	2011.02.14
申请号	KR20087020894	申请日期	2007.09.28
申请人		发明人
分类号	G01R1/073;B81C99/00;G01R1/067	主分类号	G01R1/073
代理机构		代理人
主权项
地址

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