发明名称 |
一种扁平粒状物表面平整度的提取方法 |
摘要 |
本发明公开了一种扁平粒状物表面平整度的提取方法。该方法包括如下步骤:(1)标定图像采集系统,得到图像采集系统的内参数和外参数;(2)对待分选的物体进行图像采集;(3)对采集到的图像对进行预处理;(4)对处理后的图像对进行校正;(5)进行空间分割、颜色分割、初始匹配和平面拟合,求得初始视差平面,计算最终视差图并根据视差图计算得到扁平粒状物的三维信息;(6)根据三维信息计算特征值。本发明模拟人类双眼处理景物的方式重建扁平粒状物的三维信息,根据三维信息对扁平粒状物表面平整度进行提取,简便可靠,精确,对需要判定扁平粒状物表面平整度的物品进行分选时,速度快,实现了计算机大批量针对扁平粒状物表面平整度的提取与检验。 |
申请公布号 |
CN101968347A |
申请公布日期 |
2011.02.09 |
申请号 |
CN201010267454.7 |
申请日期 |
2010.08.31 |
申请人 |
苏州大学;孙涌 |
发明人 |
孙涌;崔志明;沈文超;房鹏 |
分类号 |
G01B11/30(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/30(2006.01)I |
代理机构 |
苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 |
代理人 |
陶海锋 |
主权项 |
一种扁平粒状物表面平整度的提取方法,其特征在于包括如下步骤:(1)用2台摄像机组成图像采集系统,采集一组从不同方位拍摄到的标靶图片,对图像采集系统进行标定,得到其内部参数和外部参数,所述的内部参数包括图像中心、焦距和镜头畸变参数;所述的外部参数包括平移向量和旋转向量;(2)图像采集系统对待测物体进行图像采集,得到待测物体的图像对;(3)对得到的上述图像对进行平滑噪声和降低两图的亮度差异的预处理;(4)对处理后的图像对进行立体校正,得到对应的极线平行于水平轴;(5)采用空间分割、颜色分割、初始匹配和平面拟合的处理方法,得到最终视差图,再经计算得到待测物体的三维信息;(6)以得到的待测物体的三维信息在各平面的投影面积作为平整度的特征值,确定待测扁平粒状物的表面平整度值。 |
地址 |
215123 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路199号 |