| 发明名称 | 光屏障以及用于检测对象的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种具有半导体器件(1)的光屏障以及一种用于检测对象的方法，半导体器件(1)具有：支载体(2)，检测电磁辐射的半导体芯片(4)，发射电磁辐射的半导体芯片(4)，以及方向选择性元件(5，8)，该方向选择性元件限制由进行检测的半导体芯片(4)能够接收的辐射和/或要由进行发射的半导体芯片(3)发射的辐射的角度范围，其中能够接收的辐射的主射束轴(V)相对于要发射的辐射的主射束轴(U)倾斜。 | ||
| 申请公布号 | CN101971056A | 申请公布日期 | 2011.02.09 |
| 申请号 | CN200980109064.2 | 申请日期 | 2009.06.18 |
| 申请人 | 欧司朗光电半导体有限公司 | 发明人 | 海因茨·哈斯;沃伊切赫·吉杰维奇 |
| 分类号 | G01V8/10(2006.01)I | 主分类号 | G01V8/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 王萍;周涛 |
| 主权项 | 一种具有半导体器件(1)的光屏障，其中半导体器件(1)具有：‑支承体(2)，‑施加在支承体(2)的上侧(21)并且检测电磁辐射的至少一个半导体芯片(4)，‑至少一个发射电磁辐射的半导体芯片(3)，所述半导体芯片(3)安置在支承体(2)的上侧(21)上，以及‑安置在支承体(2)的上侧(21)上的至少一个方向选择性元件(5，8)，该方向选择性元件限制由进行检测的半导体芯片(4)能够接收的辐射的角度范围和/或要由进行发射的半导体芯片(3)发射的辐射的角度范围，其中，能够接收的辐射的主射束轴(V)相对于要发射的辐射的主射束轴(U)倾斜。 | ||
| 地址 | 德国雷根斯堡 | ||