发明名称 |
电子器件双轨检测设备及方法 |
摘要 |
本发明提供了一种电子器件双轨检测设备及方法,根据本发明的电子器件双轨检测设备包括送料装置、线性送料装置、旋转装置、校正装置、拍摄装置、分类装置、编码器以及微型机。因此,与现有的电子器件检测方法相比,根据本发明的电子器件双轨检测设备在同一时间内可以检测更多的电子器件,从而可以提高工作效率。 |
申请公布号 |
CN101049596B |
申请公布日期 |
2011.02.09 |
申请号 |
CN200710090449.1 |
申请日期 |
2007.04.06 |
申请人 |
RTS股份有限公司 |
发明人 |
成庆 |
分类号 |
B07C5/34(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I;G01R31/01(2006.01)I |
主分类号 |
B07C5/34(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
章社杲;吴贵明 |
主权项 |
一种电子器件双轨检测设备,其特征在于,其包括:送料装置,通过振动作用移动通过储料器供给的所述电子器件,所述储料器中存储有大量的所述电子器件,用以进行检测;两个以上的线性送料装置,其具有规定的长度且彼此相邻设置,以便依次供给由所述送料装置供给的电子器件;旋转装置,具有圆形玻璃状,其上面放置由所述每个线性送料装置供给的电子器件,以形成两个以上的轨道;校正装置,包括一个一次校正器以及两个以上的二次校正器,所述一次校正器具有引导所述电子器件的通道,以便将放在所述旋转装置上的电子器件成一列地整理在用于检测的各个轨道,每个所述二次校正器用于再次整理通过所述一次校正器位于轨道中的电子器件中的因所述旋转装置的离心力而从轨道偏离的电子器件,其中,每个所述二次校正器均包括中间突出的突起引导件,所述突起引导件的前端相对于对应的轨道位于外侧,且所述突起引导件的中间的突起部分使所述电子器件位于对应的轨道中;拍摄装置,用于拍摄整理在各个轨道中的电子器件的各个面的形状;触发传感器,分别位于各个轨道中且设置在相应的拍摄装置与校正装置之间,用于检测相应的电子器件;编码器,用于与所述触发传感器一起确认由所述拍摄装置拍摄的电子器件的位置信息,以及,分类装置,在检测完的电子器件中,将位于最外侧轨道中的电子器件分为合格品和不合格品,之后,将位于下一外侧 轨道中的电子器件分为合格品和不合格品。 |
地址 |
韩国京畿道 |