发明名称 一种全湿刻蚀后去胶的方法
摘要 本发明公开一种全湿刻蚀后去胶的方法,属于LED制程工艺中GaN刻蚀后去胶,包括溶液配制和使用方法。采用碱性溶液,添加适量的双氧水,放入晶片,浸泡一段时间后,取出冲水后甩干,其晶片表面的光刻胶即被去除干净。本发明适合任何不与碱性溶液发生反应的衬底的光刻胶的去除,利用双氧水的强氧化性,可将光刻胶在溶液中有效的进行去除,此方法操作简单方便,流程极其简单,适合于大规模生产中光刻胶的去除,并且成本极低。
申请公布号 CN101968610A 申请公布日期 2011.02.09
申请号 CN201010251833.7 申请日期 2010.08.12
申请人 武汉华灿光电有限公司 发明人 曹歆;郑如定;张建宝;周武;刘榕
分类号 G03F7/42(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I 主分类号 G03F7/42(2006.01)I
代理机构 江西省专利事务所 36100 代理人 胡里程
主权项 一种全湿刻蚀后去胶的方法,其步骤为:配制碱性溶液,将碱与水混合成均匀的碱性溶液;使用前加入双氧水;放入晶片,浸泡后取出冲水并甩干。
地址 430223 湖北省武汉市光谷滨湖路8号
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