发明名称 |
一种全湿刻蚀后去胶的方法 |
摘要 |
本发明公开一种全湿刻蚀后去胶的方法,属于LED制程工艺中GaN刻蚀后去胶,包括溶液配制和使用方法。采用碱性溶液,添加适量的双氧水,放入晶片,浸泡一段时间后,取出冲水后甩干,其晶片表面的光刻胶即被去除干净。本发明适合任何不与碱性溶液发生反应的衬底的光刻胶的去除,利用双氧水的强氧化性,可将光刻胶在溶液中有效的进行去除,此方法操作简单方便,流程极其简单,适合于大规模生产中光刻胶的去除,并且成本极低。 |
申请公布号 |
CN101968610A |
申请公布日期 |
2011.02.09 |
申请号 |
CN201010251833.7 |
申请日期 |
2010.08.12 |
申请人 |
武汉华灿光电有限公司 |
发明人 |
曹歆;郑如定;张建宝;周武;刘榕 |
分类号 |
G03F7/42(2006.01)I;H01L33/00(2010.01)I |
主分类号 |
G03F7/42(2006.01)I |
代理机构 |
江西省专利事务所 36100 |
代理人 |
胡里程 |
主权项 |
一种全湿刻蚀后去胶的方法,其步骤为:配制碱性溶液,将碱与水混合成均匀的碱性溶液;使用前加入双氧水;放入晶片,浸泡后取出冲水并甩干。 |
地址 |
430223 湖北省武汉市光谷滨湖路8号 |