发明名称 |
原稿尺寸检测装置 |
摘要 |
本发明提供了原稿尺寸检测装置,该原稿尺寸检测装置包括:原稿载置台;原稿压板,其按压放置在所述原稿载置台上的原稿;光源,其向所述原稿载置台照射光;读取装置,其读取从所述光源照射到所述原稿载置台的所述光的反射光;开状态检测装置,其检测所述原稿压板处于第一级别开状态、处于开角度比所述第一级别开状态的开角度更小的第二级别开状态,还是处于开角度比所述第二级别开状态的开角度更小的第三级别开状态;原稿尺寸判断装置,其根据所述原稿压板从所述第一级别开状态被关闭到所述第二级别开状态而接通所述光源,并且基于所述读取装置在所述原稿压板处于所述第三级别开状态时的读取结果来判断所述原稿的尺寸。 |
申请公布号 |
CN101489015B |
申请公布日期 |
2011.02.09 |
申请号 |
CN200910006499.6 |
申请日期 |
2004.02.26 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
石户胜宏;征矢崇 |
分类号 |
H04N1/04(2006.01)I;G03G15/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04N1/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京怡丰知识产权代理有限公司 11293 |
代理人 |
迟军 |
主权项 |
一种原稿尺寸检测装置,所述原稿尺寸检测装置包括:原稿载置台;原稿压板,其按压放置在所述原稿载置台上的原稿;光源,其向所述原稿载置台照射光;读取装置,其读取从所述光源照射到所述原稿载置台的所述光的反射光;开状态检测装置,其检测所述原稿压板从第一级别开状态被关闭到开角度比所述第一级别开状态的开角度更小的第二级别开状态,以及从所述第二级别开状态被关闭到开角度比所述第二级别开状态的开角度更小的第三级别开状态;以及原稿尺寸判断装置,其根据所述开状态检测装置检测到所述原稿压板从所述第一级别开状态被关闭到所述第二级别开状态而接通所述光源,并且基于所述读取装置在所述原稿压板处于所述第三级别开状态时的读取结果来判断所述原稿的尺寸。 |
地址 |
日本东京都大田区下丸子3-30-2 |