| 发明名称 | 用于辐射检测器的防散射格栅 | ||
| 摘要 | 本发明涉及带有吸收入射辐射(1、8)且产生与吸收的辐射的量成比例的电信号的薄片(2)的防散射格栅(ASG)。薄片(2)可以特别地由半导体材料组成，在半导体材料中光子产生了可借助于薄片(2)的侧壁上的电极(3、4、6)检测到的电子-空穴对。因此可以以空间分辨地方式确定吸收的散射辐射(8)或初级辐射(1)的量，这允许修正由传感器单元(9)的阵列(5)生成的图像。 | ||
| 申请公布号 | CN101002109B | 申请公布日期 | 2011.02.09 |
| 申请号 | CN200580027280.4 | 申请日期 | 2005.08.08 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | G·泽特勒;G·沃格特梅尔;K·J·恩格尔 |
| 分类号 | G01T1/164(2006.01)I;G01T7/00(2006.01)I;G01T1/29(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/164(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 原绍辉 |
| 主权项 | 一种用于辐射检测器的防散射格栅(ASG)，所述防散射格栅(ASG)包括适合于产生辐射(1、8)吸收剂量指示信号的薄片(2)。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||