发明名称 |
凝胶芯片检测方法与检测装置 |
摘要 |
一种凝胶芯片检测方法,检测步骤为:将与探针杂交后的凝胶芯片用去离子水清洗;去离子水清洗后的凝胶芯片插入芯片卡槽内,再将卡槽放入芯片清洗容器中进行超声处理,清洗1~10片凝胶芯片时,超声波发生器的功率设置为20W,此后每10片为一个数量级,功率相应增加10瓦,超声时间为5~30秒;将凝胶芯片取出用去离子水清洗后,氮气吹干进行芯片扫描。一种凝胶芯片检测装置,该装置由超声波发生器、功率调节器和芯片清洗容器组成,其中芯片清洗容器设于超声波发生器内,且芯片清洗容器内设有芯片卡槽。该处理方法具有具有很高的稳定性与重复性。 |
申请公布号 |
CN101074950B |
申请公布日期 |
2011.02.09 |
申请号 |
CN200710024651.4 |
申请日期 |
2007.06.26 |
申请人 |
东南大学 |
发明人 |
陆祖宏;潘志强;李燕强;肖鹏峰 |
分类号 |
G01N33/48(2006.01)I;C12Q1/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/48(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
代理人 |
陆志斌 |
主权项 |
一种凝胶芯片检测方法,其特征在于检测步骤为:a.将带有丙烯酰胺修饰的不同的PCR产物同丙烯酰胺、过硫酸铵以及水相混合,用点样仪将它们点在玻片上形成微阵列,待凝胶微阵列凝固后,将该芯片用NaOH变性处理,去离子水清洗完毕后,与检测探针杂交;b.然后将凝胶芯片用去离子水清洗;c.去离子水清洗后的凝胶芯片插入芯片卡槽内,再将卡槽放入芯片清洗容器中进行超声处理,清洗1~10片凝胶芯片时,超声波发生器的功率设置为20W,此后每10片为一个数量级,功率相应增加10瓦,超声时间为5~30秒;d.将凝胶芯片取出用去离子水清洗后,氮气吹干进行芯片扫描。 |
地址 |
210096 江苏省南京市四牌楼2号 |