发明名称 | 发光元件 | ||
摘要 | 本发明提供一种发光元件,其直接测定从发光元件的芯片放出的光时的配光分布I(θ、ф)不依存于ф方向,而是具有大体由I(θ、ф)=I(θ)表示的配光分布,I(θ、ф)表示(θ、ф)方向的光强度分布,θ表示来自发光元件的光引出面的法线方向的角度(0≤θ≤90°),ф表示法线的周围的旋转角(0≤ф≤360°),I(θ)在θ=90°下表示接近于零的单递减函数。在构成发光元件的芯片的结构体之中,涉及对于从发光层发出的光为透明的结构体部分的大小,横向的大小和厚度方向的大小的比为5以上,并且在发光元件芯片的表面或该透明的结构体部分的内部,具有有着光散射功能的结构。 | ||
申请公布号 | CN101449398B | 申请公布日期 | 2011.02.02 |
申请号 | CN200780018302.X | 申请日期 | 2007.03.27 |
申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 山中贞则;小野善伸;上田和正 |
分类号 | H01L33/00(2006.01)I | 主分类号 | H01L33/00(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 朱丹 |
主权项 | 一种发光元件,其在直接测定从发光元件的芯片放出的光时的配光分布I(θ、ф)不依存于ф方向,具有由I(θ、ф)=I(θ)表示的配光分布,I(θ、ф)表示(θ、ф)方向的光强度分布,θ表示来自发光元件的光引出面的法线方向的角度(0≤θ≤90°),ф表示法线的周围的旋转角(0≤ф≤360°),I(θ)在θ=90°时表示接近于零的单递减函数,关于包括构成发光元件芯片的基板、半导体结晶、保护膜的构成要素中相对于从发光层发出的光透明的结构体部分的大小,横向的大小和厚度方向的大小的比即纵横比为5以上,并且在发光元件芯片的表面或该透明的结构体部分的内部,具备有着光散射功能的结构。 | ||
地址 | 日本国东京都 |