发明名称 X射线检查装置
摘要 本发明提供一种X射线检查装置。本发明的X射线检查装置在外壳内部设有载物台、X射线管和探测器,并使被测定物位于上述载物台上,从上述X射线管照射X射线,通过上述探测器进行摄像来检查被测定物,其中,上述载物台是可旋转的旋转台、或者偏向一侧而通孔,在通孔的部分里可旋转地设有圆形的旋转台,在上述旋转台的下部设有连杆,在上述连杆的下端里设有旋转电动机,通过固定架被固定在上述载物台上,通过旋转上述旋转电动机来使上述旋转台旋转,可进行x轴、y轴水平移动和z轴垂直移动,上述探测器可通过托架沿着导轨移动,关于检查部位可以得到多种入射角,因此,具有确保立体的影像信息的同时可进行多种角度的检查,能够提高精度以及效率非常有效的效果。
申请公布号 CN101963587A 申请公布日期 2011.02.02
申请号 CN200910163021.4 申请日期 2009.08.19
申请人 株式会社XAVIS 发明人 金亨哲;李相義;金亨在
分类号 G01N23/18(2006.01)I 主分类号 G01N23/18(2006.01)I
代理机构 北京华夏博通专利事务所 11264 代理人 刘俊
主权项 一种X射线检查装置,其在外壳内部设有载物台、X射线管和探测器,并使被测定物位于该载物台上,从该X射线管照射X射线,通过该探测器进行摄像,由此检查被测定物,其特征在于,所述载物台是可旋转的旋转台、或者偏向一侧而通孔,在通孔的部分里可旋转地设有圆形的旋转台,所述旋转台在下部设有连杆,在该连杆的下端设有旋转电动机,通过固定架被固定在所述载物台上,通过旋转该旋转电动机来使所述旋转台旋转。
地址 韩国京畿道城南市中院区上大院1洞133-1