| 发明名称 | 测试插板 | ||
| 摘要 | 本实用新型的测试插板包括一印刷电路板，所述印刷电路板的表面上设有多个插板连接口和多个金手指；所述插板连接口的数量与所述金手指的数量相等，每个所述插板连接口具有对应电连接的金手指；所述插板连接口与外部标准插座连接；所述金手指与外部DUT板连接。本实用新型的测试插板使得特定DUT板能与多种插座配合使用，有效地利用了资源，缩短了集成电路封装可靠性评估周期，降低了评估成本。 | ||
| 申请公布号 | CN201732104U | 申请公布日期 | 2011.02.02 |
| 申请号 | CN201020246460.X | 申请日期 | 2010.06.30 |
| 申请人 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 发明人 | 李刚;郑鹏飞 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/04(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 屈蘅;李时云 |
| 主权项 | 一种测试插板，其特征在于，包括一印刷电路板，所述印刷电路板的表面上设有多个插板连接口和多个金手指；所述插板连接口的数量与所述金手指的数量相等，每个所述插板连接口具有对应电连接的金手指；所述插板连接口与外部标准插座连接；所述金手指与外部DUT板连接。 | ||
| 地址 | 201203 上海市张江路18号 | ||