| 发明名称 | 高分子电解质膜 | ||
| 摘要 | 高分子电解质膜，其特征在于，由式(1)定义的、使用小角X射线衍射装置测定的膜面方向的周期长度L小于52.0nm，L＝λ1/(2sin(2θi/2))(1)(其中，2θi表示膜面方向的散射角，λ1表示测定膜面方向的散射角时的X射线的波长)。 | ||
| 申请公布号 | CN101965659A | 申请公布日期 | 2011.02.02 |
| 申请号 | CN200980108302.8 | 申请日期 | 2009.03.10 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 川田武史;金坂将;岩原大 |
| 分类号 | H01M8/02(2006.01)I;H01B1/06(2006.01)I;H01M8/10(2006.01)I | 主分类号 | H01M8/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 蔡晓菡;高旭轶 |
| 主权项 | 高分子电解质膜，其特征在于，由式(1)定义的、使用小角X射线衍射装置测定的膜面方向的周期长度L小于52.0nm，L＝λ1/(2sin(2θi/2)) (1)(其中，2θi表示膜面方向的散射角，λ1表示测定膜面方向的散射角时的X射线的波长)。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||